ZEISS | Stereomikroskop SteREO Discovery V8 für die Partikelanalyse | LLS ROWIAK

Der Particle Analyzer ist ein Meilenstein für Ihre Qualitätskontrolle im Bereich der Bauteilsauberkeit und Ölreinheit. Das ZEISS SteREO Discovery V8 ist die optimale Lösung für die Partikelanalyse und ermöglicht eine genaue Bestimmung der Größenverteilung und des Typs von Restschmutzpartikeln in Bauteilen. Hier ist, warum das SteREO Discovery V8 für die Partikelanalyse geeignet ist:

Hauptmerkmale:

Vielseitige Systemoptionen von ZEISS: Wählen Sie aus drei Systemen je nach Ihren Analyseanforderungen:

• SteREO Discovery.V8 für Partikel bis zu 20 μm,
• Axio Zoom.V16 für Partikel bis zu 5 μm,
• Axio Imager 2 für Partikel bis zu 2 μm.

Konformität mit Industriestandards: Die Particle Analyzer Software unterstützt Sauberkeitsprüfnormen wie ISO 16232, VDA 19.1, sowie Ölanalysenormen wie DIN 51455, ISO 4406, ISO 4407 und SAE AS 4059.

MosaiX-Technologie:

• Verbesserte technische Sauberkeit: Erzielen Sie präzise Ergebnisse, die für den Freigabeprozess entscheidend sind, indem Sie Größe und Typ der Restschmutzpartikel genau bestimmen.
• Erweiterte Bildauflösung: Überwinden Sie Einschränkungen beim Erfassen kleiner Partikel durch den Einsatz von motorisierten Tischen für die Probenaufnahme. Nehmen Sie einzelne Bilder auf und fügen Sie sie nahtlos zu einem großen MosaiX-Bild zusammen.
• Spezialisierte Bildanalyse: Nutzen Sie spezifische Bildanalyse- und Verarbeitungsalgorithmen, um Partikel genau zu erfassen, zu analysieren und zu messen, die sich über mehrere Bilder erstrecken oder sich am Rand eines Bildes befinden.

SteREO Discovery.V8 Mikroskopsystem:

• Komplette Lösung für die Partikelanalyse: Ein umfassendes System für die Partikelanalyse, einschließlich:
  • SteREO Discovery.V8 Mikroskopkörper,
  • S mot mono Analyzer-Zwischentubus,
  • S 20° Binokularer Fototubus,
  • 2 × PL 10x/23 Br. foc. Okulare,
  • Basis 300 für Auflicht,
  • Grob-Feintrieb mit Profilsäule 490 mm,
  • Träger S mit Aufnahme-Dmr. 76 mm,
  • Achromat S 1,0x Objektiv FWD 63 mm,
  • Objektivschlitten S /doc (D),
  • Messtisch S 150x100 mot; CAN (D),
  • Joystick XY; CAN (D),
  • Controller EMS 3,
  • Staubschutz-Set M,
  • Spaltringleuchte d=66 mm (D) zur KL 1500/2500,
  • Polarisations-Filterset S, d=66 mm (D),
  • Kaltlichtquelle CL 6000 LED (D),
  • Tageslichtfilter für CL LED (D),
  • Halogenlichtfilter für CL LED (D),
  • Objektmikrometer für Auflicht 5 + 100/100y d=0 mm,
  • Einlegerahmen zum Halter für runde Partikelfilter,
  • Adapterrahmen S 160x116 Auflicht (D),
  • Halter für runde Partikelfilter Rev. 2,
  • Kamera-Adapter 60N-C 2/3" 0,63x,
  • Digitale Mikroskopie-Kamera AxioCam ICc 1 Rev.4 (O),
  • AxioVision SE64 Rel. 4.9.1 Software,
  • AxioVision 4 Modul Particle Analyzer Projects,
  • AxioVision 4 Modul MosaiX,
  • AxioVision 4 Modul Commander,
  • Mikroskopie Compact Workstation Core i5 multilingual (O),
  • 16 GB (2x8) DDR3-1600 MHz non-ECC ungepuffert RAM (O),
  • 2 TB 7200 RPM SATA Festplatte, zusätzlich (O),
  • Sprachpaket Windows 7 x64 Ultimate Englisch US (O),
  • 24" HP Z24i TFT Monitor (O).

Fazit:

Das ZEISS SteREO Discovery V8 gewährleistet mit seinen fortschrittlichen Fähigkeiten und spezialisierten Funktionen eine genaue und zuverlässige Partikelanalyse für verschiedene Anwendungen, wodurch es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für Qualitätskontrolle und Forschungsvorhaben wird.