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Wie-Tec | Generalüberholtes Olympus BHMJL Wafer-Inspektionsmikroskop

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Details

Wie-Tec | Generalüberholtes Olympus BHMJL Wafer-Inspektionsmikroskop

SKU: 3598

Das Olympus BHMJL Wafer-Inspektionsmikroskop wurde für die hochpräzise Inspektion von Halbleiterwafern entwickelt und bietet eine Reihe von Funktionen für die detaillierte Untersuchung von Mikrostrukturen.

Merkmale:

Komponente	Beschreibung
Fototubus	(Die Fotooption wurde entfernt, kann aber auf Wunsch wieder hinzugefügt werden)
Okulare	WHK 10x/20L-H
Objektive	- 20x/0,40 <br> - 50x/0,70
Kreuztisch
Auflichtbeleuchtung	12V/50W
Regelbares Netzteil	(Nicht abgebildet)

Dieses Mikroskop eignet sich ideal für die Inspektion von Halbleiterwafern und anderen mikroelektronischen Komponenten. Es ist in einem gebrauchten Zustand, der jedoch sorgfältig geprüft wurde, um eine zuverlässige Leistung zu gewährleisten.