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Wie-Tec | Generalüberholtes Olympus BHMJL Wafer-Inspektionsmikroskop
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Wie-Tec | Generalüberholtes Olympus BHMJL Wafer-Inspektionsmikroskop
Wie-TecHolger Wiegershaus
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37318 Gerbershausen
Deutschland
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Beschreibung
SKU: 3598
Das Olympus BHMJL Wafer-Inspektionsmikroskop wurde für die hochpräzise Inspektion von Halbleiterwafern entwickelt und bietet eine Reihe von Funktionen für die detaillierte Untersuchung von Mikrostrukturen.
Merkmale:
| Komponente | Beschreibung |
|---|---|
| Fototubus | (Die Fotooption wurde entfernt, kann aber auf Wunsch wieder hinzugefügt werden) |
| Okulare | WHK 10x/20L-H |
| Objektive | - 20x/0,40 <br> - 50x/0,70 |
| Kreuztisch | |
| Auflichtbeleuchtung | 12V/50W |
| Regelbares Netzteil | (Nicht abgebildet) |
Dieses Mikroskop eignet sich ideal für die Inspektion von Halbleiterwafern und anderen mikroelektronischen Komponenten. Es ist in einem gebrauchten Zustand, der jedoch sorgfältig geprüft wurde, um eine zuverlässige Leistung zu gewährleisten.
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