XperRAM C Series - Kompaktes Mikro-Raman-System von Nanobase Inc.

Das XperRAM C Series von Nanobase Inc. ist eines der kompaktesten und budgetfreundlichsten Mikro-Raman-Systeme auf dem Markt. Trotz seiner Größe bietet das XperRAM C Series eine Leistung auf High-End-Niveau. Dank des gleichen Laser-Scanning-Moduls wie die XperRF- oder XperRAM S-Serie bietet das XperRAM C Series die breiteste Scanning-Erfahrung auf dem Markt mit einer Scannfläche von 200 µm x 200 µm bei Verwendung eines 40X-Objektivs. Die Effizienz des Systems mit einem maßgeschneiderten Detektor und Spektrometer beträgt über 90%, wenn ein 532-nm-Laser verwendet wird. Über 90% Spitzenwirkungsgrad.

Das XperRAM C Spektrometer verfügt über ein volumenphasenholographisches (VPH) Gitter, das austauschbar und drehbar ist, um verschiedene und anspruchsvollere Experimente zu ermöglichen. Im Gegensatz zu den meisten Raman-Herstellern hat Nanobase ein Transmissionsgitter in das Raman-Spektrometer integriert, um die Effizienz auf über 90% zu steigern.

Das integrierte XPE35-Spektrometer ist für eine hohe Effizienz in Verbindung mit einem OEM-Detektor von Atik Cameras konzipiert. Das XperRAM C Series ist für die Laseranregung bei 532 nm optimiert. Weitere Optionen sind Laserlinien bei 405 nm und 633 nm.

Das System ist mit einem Hochgeschwindigkeits-Laserscanner konzipiert. Die Verwendung eines einzigen Galvospiegels maximiert die Effizienz in einer großen Scanfläche von 200 µm x 200 µm (bei Verwendung eines 40x-Objektivs), sodass Sie ein größeres Bild Ihrer Raman-Daten sehen können. Diese Einrichtung führt zu einer hohen Positioniergenauigkeit von 20 nm. Es ist keine Bewegung der Probe erforderlich, sodass große und schwere Proben kartiert werden können.

Die XperRAM C-Serie ist ein einfach zu wartendes und kostengünstiges konfokales Raman-Instrument mit einem variablen Schlitz und CCD-Binning für eine lochähnliche spektrale Auflösung. Dies führt zu einer hervorragenden Leistung. Ein Galvospiegelsystem und eine 6MP-Kamera im Scannmodul ermöglichen großflächiges Scannen und Hellfeld-Bildgebung.

Anwendungen:

• Akquisition von Raman-Spektren
• Akquisition von Raman-Kartenbildern
• Datenerfassung zur Photolumineszenz (PL)
• Datenerfassung zur Elektrolumineszenz (EL)
• Bildgebung im Hellfeldmikroskop

Spezifikationen:

• Aufrechtes Mikroskop oder Invertermikroskop
• Kommt mit einem Raman-Laser, optional: 405 nm, 532 nm (empfohlen), 633 nm
• Schnelles 2D-Laserscanmodul: Raster-Scan (wenn kein Scannen erforderlich ist, durch ein Punktmessmodul ersetzt)
• Hohe Positioniergenauigkeit von 20 nm
• Über 90% Spitzenwirkungsgrad
• Scannfläche: 200 µm x 200 µm (bei Verwendung eines 40x-Objektivs)
• Objektive:
  • Standardmäßig: 40x, NA 0,75, WD 0,63, Transmission >60% (360 nm - 1000 nm)
  • Optional: 10X, 20X, 50X, 100X, Long WD 20X, Long WD 40X (empfohlen für Photostrom)
• Spektrometer XPE 35:
  • Eingangsaperturverhältnis: f/5
  • Brennweite: 35 mm
  • Gitteroptionen: 600 lpmm, 1200 lpmm, 1800 lpmm, 2400 lpmm
• Detektor:
  • Aktive Pixel: 1931 x 1451
  • Pixelgröße: 4,54 µm x 4,54 µm
• NanoSpectrum-Softwarepaket:
  • Spektraldatenexportformat: .txt, .csv
  • Kartierungsdatenexportformat: .spm, .csv
• NanoControl Mobile App für die Fernüberwachung von Kartierungen
• Optional: Raman-Bibliotheks- und Datenerkennungssoftware

Telefon: +49 4103 701890
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