Start / Mikroskope / Raman systems / Rapp OptoElectronic GmbH
XperRAM C Series - Kompaktes Mikro-Raman-System von Nanobase Inc.
Das XperRAM C Series von Nanobase Inc. ist eines der kompaktesten und budgetfreundlichsten Mikro-Raman-Systeme auf dem Markt. Trotz seiner Größe bietet das XperRAM C Series eine Leistung auf High-End-Niveau. Dank des gleichen Laser-Scanning-Moduls wie die XperRF- oder XperRAM S-Serie bietet das XperRAM C Series die breiteste Scanning-Erfahrung auf dem Markt mit einer Scannfläche von 200 µm x 200 µm bei Verwendung eines 40X-Objektivs. Die Effizienz des Systems mit einem maßgeschneiderten Detektor und Spektrometer beträgt über 90%, wenn ein 532-nm-Laser verwendet wird. Über 90% Spitzenwirkungsgrad.
Rapp OptoElectronic GmbH
Rapp OptoElectronic GmbH | XperRAM C Serie von Nanobase Inc. - Micro-Raman mit hoher Leistungsfähigkeit
Rapp OptoElectronic GmbHKronskamp 110
22880 Wedel
Germany/Deutschland
Phone/Tel: +49 4103 701890
Fax: +49 4103 7018921
Mail:
WEB: www.rapp-opto.com
Angebotsanfrage
HerstellerRapp OptoElectronic GmbH
Die Anfrage geht an den Hersteller. Die Anfrage wird direkt gesendet.
Beschreibung
Das XperRAM C Spektrometer verfügt über ein volumenphasenholographisches (VPH) Gitter, das austauschbar und drehbar ist, um verschiedene und anspruchsvollere Experimente zu ermöglichen. Im Gegensatz zu den meisten Raman-Herstellern hat Nanobase ein Transmissionsgitter in das Raman-Spektrometer integriert, um die Effizienz auf über 90% zu steigern.
Das integrierte XPE35-Spektrometer ist für eine hohe Effizienz in Verbindung mit einem OEM-Detektor von Atik Cameras konzipiert. Das XperRAM C Series ist für die Laseranregung bei 532 nm optimiert. Weitere Optionen sind Laserlinien bei 405 nm und 633 nm.
Das System ist mit einem Hochgeschwindigkeits-Laserscanner konzipiert. Die Verwendung eines einzigen Galvospiegels maximiert die Effizienz in einer großen Scanfläche von 200 µm x 200 µm (bei Verwendung eines 40x-Objektivs), sodass Sie ein größeres Bild Ihrer Raman-Daten sehen können. Diese Einrichtung führt zu einer hohen Positioniergenauigkeit von 20 nm. Es ist keine Bewegung der Probe erforderlich, sodass große und schwere Proben kartiert werden können.
Die XperRAM C-Serie ist ein einfach zu wartendes und kostengünstiges konfokales Raman-Instrument mit einem variablen Schlitz und CCD-Binning für eine lochähnliche spektrale Auflösung. Dies führt zu einer hervorragenden Leistung. Ein Galvospiegelsystem und eine 6MP-Kamera im Scannmodul ermöglichen großflächiges Scannen und Hellfeld-Bildgebung.
Anwendungen:
- Akquisition von Raman-Spektren
- Akquisition von Raman-Kartenbildern
- Datenerfassung zur Photolumineszenz (PL)
- Datenerfassung zur Elektrolumineszenz (EL)
- Bildgebung im Hellfeldmikroskop
Spezifikationen:
- Aufrechtes Mikroskop oder Invertermikroskop
- Kommt mit einem Raman-Laser, optional: 405 nm, 532 nm (empfohlen), 633 nm
- Schnelles 2D-Laserscanmodul: Raster-Scan (wenn kein Scannen erforderlich ist, durch ein Punktmessmodul ersetzt)
- Hohe Positioniergenauigkeit von 20 nm
- Über 90% Spitzenwirkungsgrad
- Scannfläche: 200 µm x 200 µm (bei Verwendung eines 40x-Objektivs)
- Objektive:
- Standardmäßig: 40x, NA 0,75, WD 0,63, Transmission >60% (360 nm - 1000 nm)
- Optional: 10X, 20X, 50X, 100X, Long WD 20X, Long WD 40X (empfohlen für Photostrom)
- Spektrometer XPE 35:
- Eingangsaperturverhältnis: f/5
- Brennweite: 35 mm
- Gitteroptionen: 600 lpmm, 1200 lpmm, 1800 lpmm, 2400 lpmm
- Detektor:
- Aktive Pixel: 1931 x 1451
- Pixelgröße: 4,54 µm x 4,54 µm
- NanoSpectrum-Softwarepaket:
- Spektraldatenexportformat: .txt, .csv
- Kartierungsdatenexportformat: .spm, .csv
- NanoControl Mobile App für die Fernüberwachung von Kartierungen
- Optional: Raman-Bibliotheks- und Datenerkennungssoftware
Telefon: +49 4103 701890
Mail:
Weitere Instrumente
