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Nikon | IC Wafer Loader NWL200 – Fortschrittlicher Waferloader für Prüfmikroskope
Nikons neuester Waferloader, der NWL200, setzt neue Maßstäbe in der Inspektionstechnologie und wurde speziell für Prüfmikroskope entwickelt. Als erste ihrer Art sind die Geräte der NWL200-Reihe in der Lage, ultradünne Wafer mit einer Dicke von nur 100 Mikrometern sicher aufzunehmen.
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Nikon | IC Wafer Loader NWL200 – Fortschrittlicher Waferloader für Prüfmikroskope
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Beschreibung
Mit einem innovativen Einspannsystem gewährleisten diese Geräte zuverlässige Ladevorgänge und eignen sich ideal für die Inspektion von Halbleitern der nächsten Generation. Verbesserte Funktionen wie die automatische Wafer-Erkennung minimieren das Risiko von Beschädigungen an Halbleiterscheiben. Zusätzlich ermöglicht die integrierte Kantenausbruch-Erkennung die automatische Identifikation von Defekten, die durch Kantenschäden verursacht werden.
Die NWL200-Reihe von Nikon steht für Präzision, Sicherheit und Innovation und bietet eine unverzichtbare Lösung für moderne Halbleiterinspektionen.
Technische Daten:
| Kategorie | Beschreibung |
|---|---|
| Modell | NWL200 |
| Waferdicke | Bis zu 100 Mikrometer |
| Hauptmerkmale | Innovatives Einspannsystem, automatische Wafer-Erkennung, Kantenausbruch-Erkennung |
| Anwendungsbereich | Halbleiterinspektion, Prüfmikroskope |
