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Nikon | IC Wafer Loader NWL200 – Fortschrittlicher Waferloader für Prüfmikroskope

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Details

Nikon | IC Wafer Loader NWL200 – Fortschrittlicher Waferloader für Prüfmikroskope

Nikons neuester Waferloader, der NWL200, setzt neue Maßstäbe in der Inspektionstechnologie und wurde speziell für Prüfmikroskope entwickelt. Als erste ihrer Art sind die Geräte der NWL200-Reihe in der Lage, ultradünne Wafer mit einer Dicke von nur 100 Mikrometern sicher aufzunehmen.

Mit einem innovativen Einspannsystem gewährleisten diese Geräte zuverlässige Ladevorgänge und eignen sich ideal für die Inspektion von Halbleitern der nächsten Generation. Verbesserte Funktionen wie die automatische Wafer-Erkennung minimieren das Risiko von Beschädigungen an Halbleiterscheiben. Zusätzlich ermöglicht die integrierte Kantenausbruch-Erkennung die automatische Identifikation von Defekten, die durch Kantenschäden verursacht werden.

Die NWL200-Reihe von Nikon steht für Präzision, Sicherheit und Innovation und bietet eine unverzichtbare Lösung für moderne Halbleiterinspektionen.


Technische Daten:

Kategorie Beschreibung
Modell NWL200
Waferdicke Bis zu 100 Mikrometer
Hauptmerkmale Innovatives Einspannsystem, automatische Wafer-Erkennung, Kantenausbruch-Erkennung
Anwendungsbereich Halbleiterinspektion, Prüfmikroskope

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