Leica DCM8 Optisches 3D-Oberflächenmesssystem

Leica Microsystems Sales GmbH

Microscopy and Histology

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Details

Höchste Präzision und Reproduzierbarkeit

Weist Ihre Oberfläche steile Flanken oder komplexe Formen auf? Mit HD Konfokalmessung erzielen Sie eine vertikale Auflösung von bis zu 2 nm. Ist Ihre Oberfläche vergleichsweise eben mit Mikrostrukturen? Wählen Sie unter drei Modi für Interferometrie: Vertical Scanning Interferometry (VSI), Phase Shift Interferometry (PSI) oder extended PSI (ePSI) für eine Auflösung von bis zu 0,1 nm. Und um ein schnelles, brillantes HD-2D-Bild zu erhalten, bietet das Leica DCM8 Hellfeld- und Dunkelfeldmodi.

Konfigurationen (0)

Für dieses Mikroksop sind zur Zeit noch keine Konfigurationen angelegt. Bitte kontaktieren Sie den Hersteller oder einen Fachhändler Ihrer Wahl für die Beratung zu Ihrer Applikation.

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