dhs Dietermann & Heuser Solution GmbH | Zeiss AxioImager M2m mit dhs-Cleanalyzer professional für die Restschmutzanalyse

Mikroskop: Offenes Mikroskopsystem für automatisierte Materialforschung. Erleichtern Sie Ihren Workflow für lichtmikroskopische Untersuchungen in der erweiterten Materialforschung und profitieren Sie von präzisen und reproduzierbaren Ergebnissen mit ZEISS Axio Imager 2. Dieses System wurde mit Blick auf die Anwendungen in der Materialforschung entwickelt: So können Sie Ihr System mit dedizierten Lösungen erweitern, z. B. für die Partikelanalyse, die Konfokalmikroskopie oder die korrelative Mikroskopie.

dhs-Cleanalyzer® – “Professional”

Freikonfigurierbare Sauberkeitssysteme – mit bereits verfügbaren Mikroskopen. Vollautomatisches Beispielsysten bestehend aus:

ZEISS Mikroskop AxioImager, Kreuztisch mit motorisierter x-/y-Achse, Tango-Steuerung, einstellbare LED-Beleuchtung und dhs-MicroCam® 2213.

• Standardkonforme Analysen für Partikelgrößen ab 5µm
• Hochwertiges Mikroskop geeignet für unterschiedliche analytische Aufgaben
• Aufrüstbar mit allen dhs-Softwaremodulen, je nach Anwendung

Softwareanalyse mit dhs-Cleanalyzer

• Standardkonforme Analyse nach VDA Band 19/V2, ISO 16232, ISO 4406, SAE AS 4059 usw.
• Detaillierte Darstellung der Messwerte
• Einstellbare Vor-Klassifikatoren (z. B. Faser-Kriterien, Deckungsdichte in Prozent)
• Sofortige Ergebnisprüfung („Live“-Bewertung)
• Kurze Durchlaufzeiten
• Klassifikation aller Partikel
• Z-Messung
• Trendanalyseoption – Langzeitauswertungen

Visualisierung aller Partikel durch Galeriesicht für:

• Einen guten Überblick
• Schnelleres Arbeiten

Partikel- und Hallenüberwachung

Mit Hilfe von Partikelfallen, die in der Produktion aufgestellt werden, kann der Partikelniederschlag frühzeitig erkannt werden. Ablenkende Einflüsse, die die Sauberkeit in der Montageumgebung beeinträchtigen, können untersucht und beurteilt werden.

Der dhs-Cleanalyzer® Scan bewertet die kontaminierten Partikelfallen gemäß VDA 19.2 (Illig-Wert): sedimentierte Partikelniederschläge aus einer Vielzahl von Standorten und Sammelzeiten werden mit einer Formel berechnet und verglichen und zu einem Messwert zusammengefasst.

Technische Daten: